簡要描述:PlasmaPro 80是一種結構緊湊且使用方便的小型直開式系統(tǒng),可以提供多種刻蝕和沉積的解決方案。 它易于放置,便于使用,且能確保工藝性能。直開式設計可實現(xiàn)快速晶圓裝卸,是研究、原型設計和小批量生產的理想選擇。 它通過優(yōu)化的電極冷卻和出色的襯底溫度控制來實現(xiàn)高性能工藝。
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1. 產品概述
PlasmaPro 80是一種結構緊湊且使用方便的小型直開式系統(tǒng),可以提供多種刻蝕和沉積的解決方案。 它易于放置,便于使用,且能確保工藝性能。直開式設計可實現(xiàn)快速晶圓裝卸,是研究、原型設計和小批量生產的理想選擇。 它通過優(yōu)化的電冷卻和出色的襯底溫度控制來實現(xiàn)高性能工藝。
2. 特色參數(shù)
直開式設計允許快速裝卸晶圓
出色的刻蝕控制和速率測定
出色的晶圓溫度均勻性
晶圓大可達200mm
購置成本低
符合半導體行業(yè) S2 / S8標準
小尺寸系統(tǒng)——易于安置
優(yōu)化了的電冷卻——襯底溫度控制
高導通的徑向(軸對稱)抽氣結構—— 確保提升了工藝均勻性和速率
增加了<500毫的數(shù)據記錄功能——可追溯腔室和工藝條件的歷史記錄
近距離耦合渦輪泵——提供優(yōu)秀的泵送速度加快氣體的流動速度
關鍵部件容易觸及——系統(tǒng)維護變得直接簡單
X20控制系統(tǒng)——大幅提高了數(shù)據信息處理能力, 并且可以實現(xiàn)更快更可重復的匹配
通過端軟件進行設備故障診斷——故障診斷速度快
用干涉法進行激光終點監(jiān)測——在透明材料的反射面上測量刻蝕深度 (例如硅上的氧化物),或者用反射法來確定非透明材料 (如金屬) 的邊界
用發(fā)射光譜(OES)實現(xiàn)較大樣品或批量工藝的終點監(jiān)測—— 監(jiān)測刻蝕副產物或反應氣體的消耗量的變化,以及用于腔室清洗的終點監(jiān)測
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