當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體分析測試設(shè)備 > 分析測試設(shè)備 > SENTECH SE 500adv薄膜計(jì)量激光橢圓儀
簡要描述:SENTECH SE 500adv結(jié)合了橢圓偏振法和反射法,消除了測量透明薄膜層厚的模糊性。它將可測量的厚度擴(kuò)展到 25 μm。因此,SE 500adv 擴(kuò)展了標(biāo)準(zhǔn)激光橢偏儀 SE 400adv 的功能,特別適用于分析較厚的電介質(zhì)、有機(jī)材料、光刻膠、硅和多晶硅薄膜。
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1. 產(chǎn)品概述
SENTECH SE 500adv結(jié)合了橢圓偏振法和反射法,消除了測量透明薄膜層厚的模糊性。它將可測量的厚度擴(kuò)展到 25 μm。因此,SE 500adv 擴(kuò)展了標(biāo)準(zhǔn)激光橢偏儀 SE 400adv 的功能,特別適用于分析較厚的電介質(zhì)、有機(jī)材料、光刻膠、硅和多晶硅薄膜。
2. 主要功能與優(yōu)勢
明確的厚度測定
橢圓偏振法和反射法的結(jié)合允許通過自動識別循環(huán)厚度周期來快速、明確地確定透明薄膜的厚度。
大的測量范圍
激光橢偏儀和反射儀的結(jié)合將透明薄膜的厚度范圍擴(kuò)展到 25 μm 或更多,具體取決于所選的光度計(jì)選項(xiàng)。
突破激光橢圓偏振儀的限
多角度手動測角儀具有優(yōu)秀的性能和角度精度,可以測量單片和層疊的折射率、消光系數(shù)和膜厚。
3. 靈活性和模塊化
SENTECH SE 500adv 可用作激光橢偏儀、膜厚探頭和 CER 橢偏儀。因此,它提供了標(biāo)準(zhǔn)激光橢偏儀無法達(dá)到的大靈活性。作為橢圓儀操作,可以執(zhí)行單角度和多角度測量。當(dāng)作為膜厚探頭操作時,透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下測量的。
SE 500adv 中的橢圓偏振法和反射儀 (CER) 組合包括橢偏儀光學(xué)元件、測角儀、組合反射測量頭和自動準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡、樣品平臺、氦氖激光源、激光檢測單元和光度計(jì)。
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