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它是一款全自動微形狀測量機，具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，非常適合測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細形狀、臺階和粗糙度。 此外，您可以從多種型號中進行選擇，以適應(yīng)您的應(yīng)用。

CM300xi 探針臺可應(yīng)對極其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn)，例如在長時間和多種溫度下在小焊盤上進行無人值守的測試。在 EMI 屏蔽、光密和無濕氣的測試環(huán)境中，為各種應(yīng)用實現(xiàn)了的測量性能。熱管理增強功能和實驗室自動化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時間。對于低溫測試，F(xiàn)ormFactor的開放式IceShield™環(huán)境也可用于CM300xi。

SUMMIT200探針臺專為研發(fā)、設(shè)備表征/建模或利基生產(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計，可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測量，具有半自動和現(xiàn)在的全自動操作，可盡快獲得準確數(shù)據(jù)。

入門級手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合 FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學測量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是FormFactor多年開發(fā)自動光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗 - 現(xiàn)在根據(jù)大學和其他入門級用戶的需求量身定制。 MPS150可確保光纖可以精確對準，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進出設(shè)備。

CT系統(tǒng)CA20用于先進封裝的亞微米3DX射線，CA20旨在以最高分辨率提供2D和3D圖像，它允許對微米級細節(jié)進行最快的檢測，并有助于縮短復(fù)雜3D IC的上市時間。

CC系列CT系統(tǒng)亮點 ?可靠、快速、可重復(fù)的檢測 - 手動和自動 ?使用 VoidInspect 自動計算空隙 ?易于使用的動態(tài)增強濾鏡，例如 eHDR ?使用 micro3Dslice 和 FF CT 軟件的最佳可用層析成像 ?用于敏感組件的劑量減少套件、劑量監(jiān)測和低劑量檢測器模式 ?可選的新型水冷 X 射線管，可實現(xiàn)穩(wěn)定的焦點 ?可選高負載能力 （ 20 kg）